„Gut zu sein, reicht heute nicht mehr aus. Deshalb bin ich hier: Die TAW bringt mich
WEITER durch BILDUNG!

Seite drucken Seite empfehlen Ansprechpartner
Marc Manz
Tel.: 0202 / 7495 - 251
Fax: 0202 / 7495 - 218
marc.manz@taw.de


Veranstaltungsort
Technische Akademie Wuppertal
Hubertusallee 18
42117 Wuppertal

Tel.: 0202 / 7495 - 0
Fax: 0202 / 7495 - 202
taw-wuppertal@taw.de


Anreise
TAW Wuppertal
Themen-Newsletter
Jetzt bestellen und immer top informiert sein


Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik

  • Stärken und Schwächen aktueller Testverfahren

  • Teststrategien optimieren

Anmelde-Nr.: 51121107W8

Ort:

Wuppertal

Termin:

Mi, 25.4.2018 bis Do, 26.4.2018
1. Tag: 9.15 bis 16.45 Uhr
2. Tag: 8.30 bis 16.00 Uhr

Gebühr:

EUR 1030,00
(mehrwertsteuerfrei, einschließlich Seminarunterlagen, Pausengetränken und Mittagessen)

Zum Seminar

Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik

Der Einsatz neuer Technologien wie SMD, COB, BGA usw. sowie der Wandel in der Qualitätssicherung (Prozess-Sicherung statt Endkontrolle) fordert ständige Anpassungen, Optimierungen und Einführung neuer Testverfahren.
In Teststrategien zu denken ist unabdingbar, wenn man für die heutigen und zukünftigen Produkte die Testkosten reduzieren und trotzdem die Qualität steigern will. Kein Testverfahren alleine bringt ausreichende Fehlerabdeckung. Um aber eine optimale Teststrategie umsetzen zu können, müssen bereits während der Entwicklung die dafür not­wendigen Testbarkeits­richtlinien integriert werden.
Jedes Testverfahren benötigt in der Regel auch individuelle Design for Test-Maßnahmen (DFT). Die Betrachtung nur eines einzigen Testverfahrens führt nicht zu dem angestrebten Ziel der Kostenreduzierung und Qualitäts­steigerung. Die optimale Test­strategie zu ermitteln, ist Team­arbeit, d.h. Produktion, Prüffeld, Entwicklung und Qualitäts­sicherung sind involviert.
Ziel des Seminars ist es, Ihnen das erforderliche Know-how für die heute aktuellen Testverfahren mit deren Vor- und Nach­teilen, die Erarbeitung von optimalen Teststrategien sowie die Inte­gra­tion der Testverfahren im Unternehmens­umfeld zu vermitteln.

Seminarinhalt:

Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik

  1. Ziele und Bedeutung der Sichtkontrolle
    • Optische Beurteilungskriterien und Hilfsmittel
  2. Automatische Inspektion (AOI, AXI)
    • Aufbau und Unterschiede von 2D/3D-AOI-Systemen
    • Methoden der Bauteil- und Lötstellenerkennung
    • Röntgentechnik
    • Vergleich der AOI-Methoden
  3. In-Circuit-Testverfahren
    • Aktives und passives Guarding
    • Backdriving, Pin-Architekturen, Multiplexing
    • Grenzen des In-Circuit-Tests
  4. Funktionstestverfahren
  5. Selbsttest (BIST)
  6. Emulationsverfahren
    • Mikroprozessor-Emulation (ICE), ROM-Emolation,
      Bus-Emulation
  7. Simulation
    • Goodboard-Simulation und Fehlersimulation
  8. Boundary Scan
    • Funktion, Betriebsarten und Teststrategien
  9. Realisierungen bei Testsystemen
  10. Vergleich der Testverfahren bezüglich
    • Fehlerabdeckung, Fehlererkennung, Diagnose, Adapter- und Testprogrammkosten
  11. Testbarkeitsrichtlinien (DFT)
    • Globale Entwurfsrichtlinien, FMEA, DFT für Sichtkon­trolle, AOI, AXI, ICT, FKT und Boundary Scan
  12. CAD-Link für Testsysteme
    • Möglichkeiten und Vorteile der CAD-Datenübernahme
  13. Computerunterstützte Reparatur
    • Test- und Reparaturprozesse, Paperless Repair,
      Yield-Regelkreis
  14. Reparaturprozesse mit Nullfehler- und Yield-Regelkreis
  15. Adaptierungsmöglichkeiten
    • Adaptionsarten, Verdrahtung, Auswahl von Feder­kontakt­stiften
  16. Optimierung von Teststrategien
    • Ziele, Einflüsse und Parameter bei der Auswahl von Teststrategien in der Produktion und im Service

Teilnehmerkreis (m/w):

Ingenieure und Techniker aus den Bereichen Entwicklung und Qualitätssicherung von Elektronik-Baugruppen

Ihr Seminarleiter:

Dipl.-Ing. (FH) Lothar Stoll
ist langjährig im Bereich des automatisierten Testens von Elektronik-Baugruppen tätig.
Lothar Stoll TECS Prüftechnik, Furtwangen.

Art der Präsentation:

Vortrag, Diskussion, Praxisbeispiel Teststrategie-Ermittlung, Seminarunterlagen

Teilnahmebescheinigung:

Zum Abschluss der Veranstaltung erhalten Sie eine quali­fizierte Teilnahmebescheinigung der TAW mit detaillierter Auflistung der vermittelten Seminarinhalte.

Melden Sie mehr als eine/n Teilnehmer/in zum selben Seminartermin an, machen wir Ihnen das folgende Angebot:

10 % Nachlass auf die Seminargebühr für den zweiten Teilnehmer,
20 % Nachlass auf die Seminargebühr für jeden weiteren Teilnehmer.

Bedingung ist, dass die Rechnungs- bzw. Firmenanschrift identisch ist. Die Seminarsparaktion ist nicht kombinierbar mit anderen Nachlässen.
Nutzen Sie unsere Staffelpreise und buchen Sie jetzt!