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Dr.-Ing. Claudia Dössereck
Tel.: 0202 / 7495 - 207
Fax: 0202 / 7495 - 228
claudia.doessereck@taw.de



Veranstaltungsort
Technische Akademie Wuppertal
Hubertusallee 18
42117 Wuppertal

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Fax: 0202 / 7495 - 202
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Herstellerunabhängiges und anwendungsübergreifendes Know-how:

Röntgen­diffraktometrie für die Praxis

  • Grundlagen der Röntgenbeugung
  • Gerätetechnik und Probenvorbereitung
  • Polymorphie / Phasenanalyse / Rietveld
  • Kristallinität, amorpher Anteil
  • Hochtemperatur, Eigenspannung, Textur
  • Anwenderspezifische Problemlösungen

Anmelde-Nr.: 51024101W0

Ort:

Wuppertal

Termin:

Mo, 7.12.2020 bis Di, 8.12.2020
1. Tag: 9.00 bis 16.30 Uhr
2. Tag: 8.30 bis 16.00 Uhr

Gebühr:

EUR 1240,00
(mehrwertsteuerfrei, einschließlich Seminarunterlagen, Pausengetränken und Mittagessen)

Zum Seminar

Röntgendiffraktometrie für die Praxis

Das Seminar vermittelt Ihnen einen umfassenden Überblick zum aktuellen Stand der Gerätetechnik und den Einsatz­mög­lich­keiten der röntgenographischen Phasenanalyse. Die Einflüsse der vorhandenen Meßgeometrie sowie der Probenpräparation auf das Analy­se­er­gebnis werden vorge­stellt. Dabei wird die gesamte Problembreite der Praxis berück­sichtigt (geringe Mengen, Luftempfindlichkeit, Substanzen mit Vorzugs­orientierung, Routineuntersuchungen an Pulvern und kompaktem Material, dünne Schichten, zerstörungsfreie Werkstoff­prüfung). Nachweis- und Bestimmungsgrenzen in verschiedenen Probenmatrices werden darge­stellt.
Neben der quali­ta­tiven Phasenanalyse werden die einzelnen Methoden der quanti­ta­tiven Phasenanalyse mit ihren Vor- und Nachteilen und somit unter­schied­lichen prakti­schen Einsatz­mög­lich­keiten disku­tiert. Sie lernen wichtige Kriterien für eine ‚gute‘ Messung kennen. Praxisnah werden dabei die Aspekte der (Mikro-) Absorption und Vorzugs­orientierungen einbezogen. Die Rietveldmethode wird vorge­stellt und an Beispielen demonst­riert. Fragen zur Bestimmung des amorphen Anteils, von Gitterparametern und von Kristallitgrößen werden behandelt. Spezielle Frage­stellung wie die einfache Handhabung von Textur und Eigen­span­nungen und die Erfassung dynamischer Prozesse (Hochtemperatur­messungen) werden disku­tiert.
Das Seminar gibt wertvolle Hinweise für die Labor­praxis von der Routineanalyse bis zur Methodenentwicklung. Einsteiger und erfahrene Experten in der Röntgendiffraktometrie profi­tieren von vielen Tipps z.B. zum Probenhandling, der Gerätetechnik und Datenanalyse und wertvollen Hinweise zum Vorgehen beim Trouble Shooting. Die Teilnehmer dürfen gerne eigene Frage­stellungen und Meßdaten zur Diskussion einbringen.

Seminarinhalt:

Röntgendiffraktometrie für die Praxis

  • Grundlagen
    • Erzeugung von Röntgenstrahlen
    • Informationsgehalt der Röntgenbeugung
    • Grundlagen und Begriffe der qualitativen und quantitativen röntgenographischen Phasenanalyse und der Kristallographie
  • Gerätetechnik, Messverfahren
    • Diffraktometertechniken
    • Reflexions-, Transmissions- und Kapillarmessungen
    • Strahl- und Messoptimierung (Monochromatoren, streifender Einfall)
  • Detektoren
    • Wirkungsweise und Einsatz von Proportionalzählern
    • Ortsempfindlichen Detektoren und Flächenzählern
  • Probenpräparation
    • Untersuchung von Pulvern und kompakten Proben
    • Probenvorbereitung
    • Analyse von luftempfindlichen Proben und geringen Substanzmengen
    • Charakterisierung von dünnen Schichten
  • Qualitative und quantitative Phasenanalyse
    • Kriterien für eine ‚gute‘ Messung (Intensität, Reflexauflösung, Meßparameteroptimierung …)
    • Auswertung von Beugungsdiagrammen
    • Softwaremöglichkeiten
    • Datenbank ICDD (Inhalt und Anwendung)
    • Phasenanalyse, amorpher Anteil
    • Nachweis- und Bestimmungsgrenze
    • Polymorphie
    • Grundprinzip der Rietveldmethode
  • Zusätze
    • Hoch- und Tieftemperaturkammern, spezielle Probenträger, Dünnfilmzusatz, Kapillaroptik
  • Hoch- und Tieftemperaturmessung
    • Probenpräparation, Messgeometrie, Temperaturmessung, automatischer Messablauf
  • Spezielle Fragestellungen
    • Textur, Eigenspannung, Kristallitgrößenbestimmung
    • Kristallinität, amorpher Anteil
  • Einsatzgebiete / Anwendungen
    • Diskussion anwenderspezifischer Probleme (chemische Labors, Stahlindustrie, Umwelt- und Abfallanalytik, Pharmaindustrie, Pulvermetallurgie)
    • Verbindung zur Röntgenfluoreszenzanalyse
  • Grundanforderungen des Strahlenschutzes
  • Erfahrungsaustausch und Abschlussdiskussion

Teilnehmerkreis (m/w/d):

  • Laborleiter, Chemieingenieure, Chemiker, Pharmazeuten, Physiker, Mitarbeiter in Werkstoff- und Analyselabors
  • Forschung, Entwicklung, Qualitätskontrolle, Laboreinrichtungen
  • Analytische Chemie, pharmazeutische Industrie, Pulvermetallurgie, Stahlindustrie, Umwelt- und Abfallanalytik, Zementindustrie, Staubanalyse, Glasindustrie, Mineralogie und Geologie, Materialforschung und Oberflächenbehandlung

Ihr Seminarleiter:

Dr. rer. nat. Martin Ermrich, Leiter Röntgenlabor, Reinheim

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