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Marc Manz
Tel.: 0202 / 7495 - 251
Fax: 0202 / 7495 - 218
marc.manz@taw.de


Veranstaltungsort
Technische Akademie Wuppertal
Fritz-Bauer-Str. 13
90518 Altdorf b. Nürnberg

Tel.: 09187 / 931 - 0
Fax: 09187 / 931 - 200
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Alternativ-Termine
18.-19.03.2019 - Wuppertal 03.-04.06.2019 - Wuppertal

Boundary-Scan-Test

Prüfverfahren in der Entwicklung

  • Grundlagen des Verfahrens
  • Hardwareentwicklung
  • Standard IEEE 1149.x
  • Reparatur
  • Serienprüfung
  • Qualitätssicherung
  • benötigte Ausrüstung
  • Testprogramme
  • Testsystementwicklung
  • praktische Übungen

Anmelde-Nr.: 81121140W8

Ort:

Altdorf bei Nürnberg

Termin:

Mi, 17.10.2018 bis Do, 18.10.2018,
jeweils 9.00 bis 16.30 Uhr

Gebühr:

EUR 1100,00
(mehrwertsteuerfrei, einschließlich Seminarunterlagen, Pausengetränken und Mittagessen)

Zum Seminar

Boundary-Scan-Test

Heutige Schaltungsaufbauten werden immer komplexer auf gleichzeitig verkleinertem Bauraum. Durch diese Entwicklung wird es schwieriger auf bestimmte Kontaktpunkte einer Schaltung zuzugreifen. Wurden früher noch 1 oder 2 lagige Leiterplatten verwendet, so sind heute Leiterplatten mit 20 Layern (Multilayer PCB) keine Seltenheit mehr. Auch werden vermehrt Integrierte Schaltungen (ICs) verwendet, deren Anschlüsse unterhalb des Gehäuses verborgen sind. Mechanisches Kontaktieren diser Punkte is kaum mehr möglich.
Der Boundary-Scan Test ist in den IEEE1149.x Standards international genormt. Diese Methode ermöglicht eine Prüfung der bestückten Leiterplatte oder eines Systems über minimalen mechanischen Zugang.
Lernen Sie die Vorteile der Boundary-Scan Tests gegenüber den gängigen Methoden wie den In-Circuit Test (ICT) oder Flying Probe Test (FPT) kennen.
Boundary-Scan lässt sich schon innerhalb der Entwicklung einsetzen, reduziert Entwicklungszeiten und steigert somit die Qualität Ihrer Produkte.
Durch praktische Übungen erlernen Sie den Umgang mit einem Boundary-Scan Testsystem.

Seminarinhalt:

Boundary-Scan-Test

1. Seminartag
  1. Was ist Boundary-Scan?
  2. Wofür brauchen wir Boundary-Scan?
    • HW-Entwicklung Design-Checks
    • In-System-Programmierung
    • SW-Debugging
    • Inbetriebnahme bestückter Leiterplatten und Systeme
    • Qualitätssicherung in der Fertigung
    • Reparatur
  3. Vorteile/Nachteile gegenüber anderen Prüfverfahren
    • Funktionstest (FT)
    • In-Circuit-Test (ICT)
    • Flying-Probe-Test (FPT)
    • Optische Inspektion (MOI, AOI, AXI)
  4. Wie funktioniert Boundary-Scan ?
    • Die Technologie im IC und BSDL-Modelle
    • Schaltungsstruktur auf der Leiterplatte
    • Schaltungsstruktur im Gerätesystem
    • Testgenerierung und Ausführung
  5. Standards (IEEE1149.1 / 4 / 6 / 7)

2. Seminartag
  1. Boundary-Scan in HW-Entwicklung und Fertigung
  2. Benötigte Ausrüstung
  3. Kombination mit anderen Prüfverfahren
  4. Testgenerierung
    • Aufbereitung Netz- und Teilelisten
    • Scanpfadtest / Infrastructure-Test
    • Verbindungstest / Interconnections-Test
    • Speicherverbindungstest / Memory-Connect-Test
    • Oszillatortest / Clock-Test
    • LED-Test / Netz-Toggle-Test
    • Sonstige Tests
    • N-System-Programmierung
      • FLASH / EEPROM
      • Serielle Verfahren (SVF, STAPL, IEEE1532)
  5. Praktische Übungen an einem Boundary-Scan-Testsystem

Teilnehmerkreis (m/w):

Hardware-Entwickler, Leiterplattenhersteller, Entwicklungsleiter, Ingenieure, Techniker

Ihr Seminarleiter:

Mario Blunk
Blunk Electronic, Hardwareentwicklung, CAD-Layout,
Boundary Scan Test, Beratung und Schulung zu Design for Test

Art der Präsentation:

Vortrag, praktische Übungen, Seminarunterlagen

Teilnahmebescheinigung:

Zum Ab­schluss der Ver­an­stal­tung er­hal­ten Sie ei­ne qua­li­fi­zier­te Teilnahmebescheinigung der TAW mit de­tail­lier­ter Auf­lis­tung der ver­mit­tel­ten Seminarinhalte.

Melden Sie mehr als eine/n Teilnehmer/in zum selben Seminartermin an, machen wir Ihnen das folgende Angebot:

10 % Nachlass auf die Seminargebühr für den zweiten Teilnehmer,
20 % Nachlass auf die Seminargebühr für jeden weiteren Teilnehmer.

Bedingung ist, dass die Rechnungs- bzw. Firmenanschrift identisch ist. Die Seminarsparaktion ist nicht kombinierbar mit anderen Nachlässen.
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