„Gut zu sein, reicht heute nicht mehr aus. Deshalb bin ich hier: Die TAW bringt mich
WEITER durch BILDUNG!“
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Katrin Wirz
Tel.: 0202 / 74 95 - 616
Fax: 0202 / 74 95 - 228
katrin.wirz@taw.de
Veranstaltungsort
Technische Akademie Wuppertal
Fritz-Bauer-Str. 13
90518 Altdorf b. Nürnberg
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Fax: 09187 / 931 - 200
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Alternativ-Termine
12.-13.03.2019 - Altdorf bei Nürnberg 03.-04.07.2019 - Wuppertal 04.-05.11.2019 - Altdorf bei Nürnberg
Optische Messverfahren und Industrielle Bildverarbeitung in der Qualitätssicherung
Automatisierungsmöglichkeiten und Integration in qualitätsrelevante Prozesse
Anmelde-Nr.: 81231003H9
Ort: |
Altdorf bei Nürnberg |
Termin: |
Di, 12.3.2019 bis Mi, 13.3.2019 |
Gebühr: |
EUR 1290,00 |
Zum Seminar
Optische Messverfahren und Industrielle Bildverarbeitung in der Qualitätssicherung
Die Teilnehmer haben zudem die Möglichkeit, individuelle Lösungsansätze zu erarbeiten.
Seminarinhalt:
Optische Messverfahren und Industrielle Bildverarbeitung in der Qualitätssicherung
- Technische Grundlagen
- Optische Messverfahren und Industrielle Bildverarbeitung
- Grundlagen verschiedener Messprinzipien (u.a. Triangualtion, Spektroskopie, Interferometrie, Konfokal)
- Einsatzmöglichkeiten in Produktion und Messlabor (Form- und Lagekontrolle, Rauheit, Maßhaltigkeit etc.)
- Praxisbeispiele
- Anwendungsmöglichkeiten der verschiedenen Technologien: Was kann gemessen werden?
Wie schnell? - Möglichkeiten und Grenzen der Bildverarbeitung / Softwarealgorithmen
- Projektplanung und Umsetzung
- Applikationsprüfung und Systemspezifikation
- Machbarkeitsstudie: Standardlösung vs. kundenspezifische Entwicklung
- Erarbeitung möglicher Lösungsansätze mit den Teilnehmern
- Integration in qualitätsrelevante Prozesse
- Automatisierungsmöglichkeiten (Industrie 4.0)
- Anbindung von QS-Datenbanksystemen.
- Diskussion
Teilnehmerkreis (m/w):
Lehrgangsleitung:
MICRONISE – Systempartner für Automatisierungs-, Mess- und Prüftechnik.
Über 15 Jahre Berufserfahrung im Lösen von kundenspezifischen Applikationen mit optischen Systemen und Multi-Sensor Messtechnik. Unter anderm tätig für: SICK AG, Leica Microsysteme, Werth Messtechnik GmbH, Dr. Heinrich Schneider Messtechnik GmbH, NanoFocus AG, Cognex
Art der Präsentation:
Teilnahmebescheinigung / Zertifikat:
Melden Sie mehr als eine/n Teilnehmer/in zum selben Seminartermin an, machen wir Ihnen das folgende Angebot:
10 % Nachlass auf die Seminargebühr für den zweiten Teilnehmer,
20 % Nachlass auf die Seminargebühr für jeden weiteren Teilnehmer.
Bedingung ist, dass die Rechnungs- bzw. Firmenanschrift identisch ist. Die Seminarsparaktion ist nicht kombinierbar mit anderen Nachlässen.
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