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Dipl.-Ing. Dirk Böttcher
Tel.: 0202 / 74 95 370
Fax: 0202 / 74 95 228
dirk.boettcher@taw.de


Veranstaltungsort
Technische Akademie Wuppertal
Hubertusallee 18
42117 Wuppertal

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Zuverlässigkeit für Baugruppen

Einführung in die Theorie der Zuverlässigkeit für komplexe Systeme, bzw. Baugruppen

Anmelde-Nr.: 51121134W0

Ort:

Wuppertal

Termin:

Do, 17.9.2020 bis Fr, 18.9.2020,
jeweils 9.00 bis 16.30 Uhr

Gebühr:

EUR 1100,00
(mehrwertsteuerfrei, einschließlich Seminarunterlagen, Pausengetränken und Mittagessen)

Zum Seminar

Zuverlässigkeit für Baugruppen

Für Entwicklung, Betrieb und Wartung elektronische Baugruppen und Systeme sind Abschätzungen über Zeitpunkte von Ausfällen unabdingbarer Bestandteil der technischen Verfügbarkeit. Es handelt sich hier um rein statistische Zahlen. Insbesondere sicherheitsrelevante Einrichtungen erfordern den Einsatz der Zuverlässigkeitstheorie.
Dieses Seminar vermittelt die Grundlagen der Theorie der Zuverlässigkeit. Es werden Begriffe wie Ausfallrate, MTBF und Zuverlässigkeit erklärt und mittels praktischer Beispiele systematisch vermittelt. Es findet eine Gegenüberstellung von Standards statt, und deren Vor- und Nachteile werden dargelegt.

Seminarinhalt:

Zuverlässigkeit für Baugruppen

  • Warum Zuverlässigkeit ?
    • Einflussfaktoren auf Zuverlässigkeit
  • Grundlagen
    • MTBF (Mean Time Between Failures)
    • Ausfallrate (Lambda, failure rate)
    • Badewannenkurve (Frühausfälle, Normalausfälle, Spätausfälle)
  • Berechnung der Zuverlässigkeit
    • PCA (Part Count Analysis)
    • PSA (Part Stress Analysis) nach MIL-HDBK-217F
  • Unterlastung / Derating
  • Fehlermechanismen / Fehlerarten
  • FTA (Fehlerbaum-Analyse)
  • Zuverlässigkeits-Block-Analyse
  • Redundanz
  • Prüfung der Zuverlässigkeit
  • Raffungsverfahren
  • Richtlinien für Entwicklung / Design Rules
  • Normen, Standards, Literatur

Teilnehmerkreis (m/w/d):

Hardware-Entwickler, Projektleiter, Qualitätssicherung

Ihre Seminarleiter:

Dipl. Ing. Mario Blunk,
Blunk electronic / Erfurt, Hardwareentwicklung, CADLayout,
Boundary Scan Test, Beratung und Schulung zu Design for Test

Art der Präsentation:

Vortrag, Diskussion, Praxisbeispiele, Film, Lehrunterlagen

Ziel:

Ziel dieses Seminars ist es ein Verständnis für Systematik, Methoden und Berechnung der Zuverlässigkeit elektronischer Baugruppen zu vermitteln.

Teilnahmebescheinigung:

Zum Ab­schluss der Ver­an­stal­tung er­hal­ten Sie ei­ne qua­li­fi­zier­te Teilnahmebescheinigung der TAW mit de­tail­lier­ter Auf­lis­tung der ver­mit­tel­ten Seminarinhalte.

Melden Sie mehr als eine/n Teilnehmer/in zum selben Seminartermin an, machen wir Ihnen das folgende Angebot:

10 % Nachlass auf die Seminargebühr für den zweiten Teilnehmer,
20 % Nachlass auf die Seminargebühr für jeden weiteren Teilnehmer.

Bedingung ist, dass die Rechnungs- bzw. Firmenanschrift identisch ist. Die Seminarsparaktion ist nicht kombinierbar mit anderen Nachlässen.
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