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Ansprechpartnerin
Dr.-Ing. Claudia Dössereck
Tel.: 0202 / 7495 - 207
Fax: 0202 / 7495 - 228
claudia.doessereck@taw.de



Veranstaltungsort
Technische Akademie Wuppertal
Fritz-Bauer-Str. 13
90518 Altdorf b. Nürnberg

Tel.: 09187 / 931 - 0
Fax: 09187 / 931 - 200
taw-altdorf@taw.de


Anreise
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Alternativ-Termin
26.-27.10.2021 - Wuppertal

Zuverlässigkeits­sicherung in der Elektronik

  • Zuverlässigkeitsberechnung
  • MTBF / MTTF Ermittlung
  • Beschleunigungsgesetze
  • Umweltsimulation
  • MTTR / MDT
  • Lebensdauertests

Anmelde-Nr.: 81121120W1

Ort:

Altdorf bei Nürnberg

Termin:

Mi, 19.5.2021 bis Do, 20.5.2021,
jeweils 9.15 bis 16.45 Uhr

Gebühr:

EUR 1100,00
(mehrwertsteuerfrei, einschließlich Seminarunterlagen, Pausengetränken und Mittagessen)

Zum Seminar

Zuverlässigkeitssicherung in der Elektronik

Als Anwender elektronischer Geräte und Systeme erwarten Sie zu­ver­läs­sige Funktionalität im vorgegebenen Umfeld. Ent­wickel­te Sys­teme sind den Anforderungen im Einsatz ent­sprechend auszulegen und die Tauglichkeit nachzuweisen. Dies trifft so­wohl für Einzelkomponenten als auch für Bau­grup­pen zu.
In diesem Seminar werden praxisnahe Methoden und Strategien gezeigt, die Ihnen bei der Bewältigung dieser Aufgaben helfen.
Es werden die im praktizierten Zuverlässigkeits-Engineering ver­wendeten Zuverlässigkeitskenngrößen und Lebens­dauer­ver­teilungen erläutert und mit Übungen vertieft. Stresstests und ihre Auswirkungen werden ebenso dargestellt, wie mögliche Ablaufszenarien von Lebensdauertests und Um­welt­simulationstests. Darin eingebunden sind die Raffungsgesetze und deren Limitierungen so wie diese für elektronische Systeme Anwendung finden.
Für entwickelte Systeme sind oft Prognosen über das zu erwartende Ausfallverhalten im Feld erforderlich. Mittels der MTBF / MTTF Ermittlung wird dieses Verfahren gezeigt. Werden mehrere Geräte zu einem komplexeren System zu­sam­men­ge­fügt, so ist nach Festlegung der Systemstruktur die Zu­ver­läs­sig­keit für das gesamte System zu ermitteln. Die dazugehörige Berechnung wird anhand von Serien-, Parallel- und Mischsystemen durchgeführt.
Anhand von Beispielen und eigenen Berechnungen vertiefen Sie die Theorie. Daher ist es erforderlich, dass Sie einen Taschen­rechner mit e-Funktion mitbringen.

Seminarinhalt:

Zuverlässigkeitssicherung in der Elektronik

  • Zuverlässigkeits-Engineering
    • Motivation und Zielsetzung, Definition
    • Lebensdauerkurve, Zuverlässigkeitsmanagement
    • MTTR / MDR
    • Hinweise und Beispiel zu Tools
    • Darstellung zugehöriger statistischer Grundbegriffe
    • Kenngrößen der Zuverlässigkeit
    • Exponentialverteilung, Weibullverteilung, Lebensdauer
    • Aussagesicherheit in Abhängigkeit der Stichprobengröße
  • Zuverlässigkeitsprüfungen / Umweltsimulationstest / Qualifikationsabläufe
    • Zielsetzung
    • Stresstests und Umweltsimulationsprüfungen
    • Wirkung der Stresstests auf die Prüflinge
    • Beispiele von Fehlermechanismen
    • Definition und Ableitung eines Mission Profil
    • Beschleunigungsgesetze z.B. Arrhenius, Peck, Lawson, Coffin-Manson
    • Lebensdauertest, Ermittlung der Ausfallrate, Verwendung der Chi-Quadratverteilung, Zuverlässigkeit
    • Anwendung der Beschleunigungsgesetze Feuchte-Wärmeprüfung, Temperaturwechselprüfung
    • Ablauf und Aktionen einer Qualifikation
    • Interpretation und Aufgabenstellung nach durchgeführter Qualifikation
  • Einführung in die Zuverlässigkeitsberechnung (MTBF) von Baugruppen
    • Ziel und Erwartetes Ergebnis
    • Die Kenngrößen MTBF / MTTF
    • Parts Count und Part Stress Analyse
    • Qualitäts- und Belastungsfaktoren
    • Beurteilung von Bauelemente Ausfallraten (FIT-Wert)
    • Ermittlung von Zuverlässigkeitsdaten aus dem Feld
    • MTBF-Berechnung einer Baugruppe
    • Interpretation ermittelter Ausfallraten
    • Ausfallraten bei funktionaler Sicherheit (FuSi)
  • Einführung in die Zuverlässigkeitsanalyse und -berechnung von Systemen
    • Grundlagen und Vorgehensweise
    • Hinweise zur Booleschen Algebra
    • Hinweise zu den Wahrscheinlichkeitsgesetzen
    • Zuverlässigkeits-Blockdiagramm
    • Zuverlässigkeit serieller und paralleler Strukturen
    • FTA, Fault Tree Analysis
  • Normen und Literaturhinweise
    • Normen und Literatur mit beispielhaften Anschauungsexemplaren

Teilnehmerkreis (m/w/d):

Ingenieure und Techniker aus Qualitätswesen und Entwicklung

Ihr Seminarleiter:

Dipl.-Ing. Armin Gottschalk,
IQZG Consulting, Auditierung, Schulung, Coaching, Workshops zu ESD und Zuverlässigkeit, Nördlingen

Art der Präsentation:

Vortrag, Fachdiskussion, Beispiele, Übungen, Seminarunterlagen

Teilnahmebescheinigung:

Teilnahmebescheinigung der TAW mit detaillierter Auflistung der vermittelten Seminarinhalte.

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